現在、世界中の兵士がデータの宝庫を手元で活用することができ、これには戦術的場面も含まれる。これは、戦闘技術にとって重要なステップであるが、意思決定を素早く最大限化するには、膨大なデータの収集点で粒度の細かい高速処理を行うことが必要となる。高性能コンピューティングは内部のマイクロエレクトロニクスに大きく依存しており、宇宙などの過酷な環境で運用される重要なアプリケーションのコンポーネントは、破壊的レベルの放射線の影響を受ける可能性がある。今後のブレイクスルーを牽引する3D異種集積（3D heterogeneously integrated: 3DHI）技術のコンポーネントは、放射線検査及び要件で新たな試練を呈している。こうした中、国防高等研究計画局（Defense Advanced Research Project Agency: DARPA）の「シングル・イベント効果放射線検査の先端ソース（Advanced Sources for Single-event Effects Radiation Testing: ASSERT）」プログラムは、先端マイクロエレクトロニクスのコンポーネントが過酷な放射線環境で最善の信頼性を備えて運用できるよう確実にすることに焦点を当てる。「放射線への耐性を強化した（radiation-hardened: rad-hard）」コンポーネントの最適な開発を促進するため、そして最先端の技術を兵士へ早急に届けるため、ASSERTプログラムは、設計と開発のライフサイクルを通じて放射線検査を統合することで、rad-hardの設計及び要件における現状を打破することを目指している。
