セキュリティ・新興技術センター（Center for Security and Emerging Technology: CSET）は今般、「STEM分野の博士号を取得した海外留学生の長期滞在率（The Long-Term Stay Rates of International STEM PhD Graduates）」と題する報告書を発表した。米国科学財団（National Science Foundation: NSF）による「博士号取得者に関するアンケート調査（Survey of Doctorate Recipients）」のデータを基に、米国の大学でSTEM分野の博士号を取得した海外留学生が卒業後も米国に滞在する割合について調査したものである。それによれば、こうした海外留学生の多くが、博士号取得後も長期にわたって米国に滞在し続けている。具体的なファインディングとして、①長期滞在率は高い（2000～2015年に米国の大学でSTEM分野の博士号を取得した海外留学生17万8,000名のうち、約77％が引き続き米国内に滞在している（2017年2月現在））、②米国滞在率は博士号取得年が遡るほど高くなる、③米国滞在率はSTEM分野全般で類似している、④米国でSTEM分野の博士号を取得した海外留学生のほぼ半分を、中国籍とインド籍の学生が占め、その大半が卒業後も長期滞在している、などが挙げられている。
