商務省（Department of Commerce）傘下の米国標準技術局（National Institute of Standards and Technology：NIST）は、測定や標準化、モデリングとシミュレーションに関する7つの戦略的重要課題を概説した報告書を発表した。「米国半導体業界の戦略的機会：測定と標準の進展を通じて米国のリーダーシップと競争力を加速（Strategic Opportunities for U.S. Semiconductor Manufacturing: Facilitating U.S. Leadership and Competitiveness through Advancements in Measurements and Standards）」と題する報告書で、ローリー・ロカシオNIST所長（Laurie E. Locascio）は、「米国半導体業界に影響する測定の課題は、重要な段階にあり、この重要な部門で米国のリーダーシップを確実にするには対処しなくてはならない問題である」と語る。報告書で指摘されている7つの重要課題は、①マテリアルの純度と特性の計測開発、②将来のマイクロエレクトロニクス製造、③個別に製造された部品を統合する先端梱包、④サプライチェーン全般の機器の安全保障強化、⑤半導体マテリアルのモデリングとシミュレーション用ツールの改良、⑥製造プロセスの工場、⑦新規のマテリアル、プロセス、機器の標準化の必要性、となっている。
